| настоящий ряд | 32.5А к 94А |
|---|---|
| Ряд индуктивности | 100нХ к 300нХ |
| Установка | SMD |
| частота ест | 100КХз, 0.1В |
| Значение индуктора | Фиксированный индуктор |
| Структура | Защищенный |
|---|---|
| Установка | DIP |
| Значение индуктора | Фиксированный индуктор |
| Операционная Температура | -40℃ - +105℃ |
| Температура хранения | -40℃ - +105℃ |
| настоящий ряд | 14А к 50А |
|---|---|
| Ряд индуктивности | 0.14уХ к 2.25уХ |
| Размер | 15.5мм кс 11мм кс 8мм |
| частота ест | 100КХз, 0.1В |
| Значение индуктора | Фиксированный индуктор |
| Ряд индуктивности | 3.3уХ к 33уХ |
|---|---|
| Толерантности | ±10%, ±20% |
| Испытайте частоту | 100КХз, 1В |
| Текущие | до 93.6А |
| провод | Плоская медная проволока |
| Испытайте частоту | 100КХз, 1В |
|---|---|
| Ряд индуктивности | 3.3уХ к 100уХ |
| Толерантности | ±10%, ±20% |
| Текущие | до 40А |
| провод | Плоская медная проволока |
| настоящий ряд | 20А к 65А |
|---|---|
| Ряд индуктивности | 72нХ к 226нХ |
| Толерантности | 10 % |
| Размер пусковой площадки | 7.0*7.0 |
| Операционная Температура | -40℃ к +125℃ (окружающему плюс подъем само-температуры) |
| Провод | Плоская медная проволока |
|---|---|
| Коэффициент поворотов | 1:1 |
| Ядр | Квадрат феррита неубедительный |
| Частота теста | 10kHz |
| Участок | Одиночная фаза |
| настоящий ряд | 14А к 35А |
|---|---|
| Ряд индуктивности | 22нХ к 120нХ |
| Установка | SMT |
| Размер пусковой площадки | 7.0*4.0мм |
| Испытайте частоту | ℃ 100КХз/0.1V@25 (1МХз/0.1В для 22НМ) |
| настоящий ряд | 10А к 25А |
|---|---|
| Ряд индуктивности | 1уХ к 10уХ |
| Установка | SMT |
| Размер пусковой площадки | 10*10mm |
| Испытайте частоту | ℃ 10КХз/0.1V@25 |
| настоящий ряд | 10А к 25А |
|---|---|
| Ряд индуктивности | 1уХ к 10уХ |
| Установка | SMT |
| Размер пусковой площадки | 10*10mm |
| Испытайте частоту | ℃ 10КХз/0.1V@25 |